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　　報告題目：高速高性能數據采集系統(tǒng)介紹和應用

　　報告人： Dr. Peter Grudberg, 美國XIA工廠

　　時間：2019年6月14日（星期五）10:00-12:00

　　地點：近代物理所5號樓911會議室

　　交流會摘要：

　　本次交流會將介紹美國XIA工廠的高速高性能數據采集系統(tǒng)的產品和應用。XIA的數據采集卡可以將來自HPGe、閃爍體、硅探測器、中子探測器等幾乎任何探測器的輸入信號快速數字化，具有全數字觸發(fā)濾波、能量濾波、堆積檢測等功能。內置FPGA和DSP固件，用于脈沖高度重建、脈沖波形分析和MCA直方圖生成。這些模塊可以組合成龐大的數據采集系統(tǒng)，采集分布式定時和觸發(fā)信號，進行時間符合和能譜測量。XIA的許多產品都可以定制特殊的固件，以支持最終用戶的應用需求。

　　主要介紹的產品有：

　　臺式數字化儀：獨立的網絡連接的多路數字化儀，基于嵌入式，FPGA/ARM/ LINUX系統(tǒng)，允許用戶定制。

　　插件式數據采集卡：PXI/PXIe總線，方便建立中大型數據獲取系統(tǒng)。

　　嵌入式數據采集卡：體積小、功耗低、性能高，嵌入各種檢測設備。

　　X射線譜儀：適用于單探頭或多條SDD、HPGe等X射線探測器，應用于世界上多個同步輻射加速器中。

　　屆時會有實物的現場演示。